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產(chǎn)品簡(jiǎn)介 靈活型CL光譜儀 儀器簡(jiǎn)介： 電子束入射到樣品上，即可用光學(xué)方法接收并分析陰發(fā)光（CL），從而提供樣品詳細(xì)的物理特性。它是一種無(wú)損的分析方法，結(jié)合電鏡可提供與形貌相關(guān)的高空間分辨率光譜結(jié)果，是納米結(jié)構(gòu)和體材料的*分析工具。 詳情介紹 靈活型CL光譜儀 儀器簡(jiǎn)介 電子束入射到樣品上，即可用光學(xué)方法接收并分析陰發(fā)光（CL），從而提供樣品詳細(xì)的物理特性。它是一種無(wú)損的分析方法，結(jié)合電鏡可提供與形貌相關(guān)的高空間分辨率光譜結(jié)果，是納米結(jié)構(gòu)和體材料的*分析工具。 Flex-CLUE是一款高性能的CL分析儀器 ，適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。它基于光纖傳輸，是適用于有限空間的集成化系統(tǒng)。 原理圖 靈活型CL光譜儀 主要特點(diǎn) ● 光纖耦合 ● 高效CL信號(hào)收集 ● 掃描成像、線掃描、點(diǎn)測(cè)量 ● 多種光柵選項(xiàng) ● 多種焦長(zhǎng)光譜儀選項(xiàng)：140mm-320mm ● 光譜范圍：200nm-1000nm或400nm-1700nm 重點(diǎn)應(yīng)用領(lǐng)域 陰發(fā)光光譜儀（CL）是用來(lái)表征材料中的缺陷，元素和雜質(zhì)追蹤的*分析工具，廣泛適用于各個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域。 1、材料科學(xué) ● 半導(dǎo)體和光電材料 ● 介電/陶瓷 ● 氧化物膜 ● 玻璃 2、礦物、地質(zhì) ● 碳酸巖 ● 晶體 ● 金剛石 ● 鋯石、方解石、白云石 3、* 4 、生命科學(xué) CL 光譜及成像 ■CL光譜：使用CL測(cè)量光譜時(shí)，可在電鏡下觀察并選擇待測(cè)樣品區(qū)域。 ■快速CL成像：將掃描電子束與您的光譜儀同步，提供快速成像方案。使用HCLUE系統(tǒng)測(cè)量的GaN樣品，測(cè)量中使用了超快SWIFTTM成像模式。 礦物樣品中的白云石和磷酸鈣。測(cè)量使用Flex-CLUE系統(tǒng)，配備iHR320光譜儀和開(kāi)放電式CCD探測(cè)器。感謝Prof A. Jambon, UPMC France提供數(shù)據(jù) 左圖：使用偽彩色顯示350nm-450nm之間發(fā)射光譜區(qū)。figure 1, Hyperspectral CL mapping 中圖：電鏡下的樣品圖像。figure 2, SE image 右圖：對(duì)應(yīng)的光譜，其中不同色彩區(qū)域與左圖中顯示的顏色對(duì)應(yīng)。figure 3, CL spectral (RGB) 上一篇： Tunable PowerArc/ Tu可調(diào)單色光源 下一篇： ACTIVA-M新型等離子體發(fā)射光譜儀
